대부분 국가에서는 아직도 치은연하 인접면 오버행은 아말감인 경우가 가장 많이 보인다. 치은연하 인접면의 오버행을 제거하는 것은 기술적으로 까다로운 과정이다. 그동안 다양한 재료와 방법들이 사용됐다.
Vale & Cafesse(1979)은 주사전자현미경(SEM, Scanning Electron Microscope) 테크닉과 프로필로그램을 복합적으로 이용해 회전식 기구들, 아말감 나이프 및 왕복운동 삼각 형태의 다이아몬드 포인트(EVA-tips, Dentatus AB, Spåanga, Sweden) 등을 사용한 오버행 제거 효과를 평가했다.
이 연구에서 주사전자현미경은 회전식 기구와 아말감 나이프들은 충전물이 파절된 마진으로 야기된 치아표면 사이(T)와 아말감 충전(A)사이의 좁은 간극을 만들었음을 보여줬다(그림 55). 이런 간극은 다량의 박테리아가 서식하게 되고 2차 우식의 위험이 증가하게 된다. 그러나 왕복운동 방식의 LTA-다이아몬드를 사용한 경우에는 마진부 파절이나 간극이 발생하지 않았다(그림 56). 프로필로그램을 이용해서도 같은 효과를 확인할 수 있었다. 그림 57은 회전식 기구를 이용한 후, 그림 58은 왕복운동용 다이아몬드 팁(50마이크론)을 이용한 경우를 보여주고 있다.
그림 55. SEM으로 드러난 치아표면(T)과 아말감(A)사이의 좁은 간극.
수복마진 파절로 인한 간극은 회전식 기구와 아말감 나이프를 사용할 때 발생했다(×140 확대) (출처: Vale and Caffessee 1979. 허락 하에 게재함)
그림 56. SEM으로 드러나 파절되지 않은 아말감(A) 마진 또는 치아제거부(T)
왕복운동용 EVA 다이아몬드를 사용한 후(×140 확대)
(출처: Vale and Caffessee 1979. 허락 하에 게재함)
T= Tooth, A= Amalgam
그림 57. 회전식 기구를 이용한 후의 폴리필로그램.
T = tooth, A = amalgam.
(출처: Vale and Caffessee 1979. 허락 하에 게재함)
그림 58. EVA 왕복운동용 다이아몬드 팁(50㎛)을 사용한 후의 폴리필로그램
T = tooth, A = amalgam.(출처: Vale and Caffessee 1979. 허락 하에 게재함)
또 다른 연구에서, Spinks et al(1985)은 수작업 기구(큐렛) 또는 소닉 스케일러를 이용한 오버행 제거는 EVA-Profin 왕복운동용 다이아몬드 팁을 사용한 경우보다 각각 2.5배와 5배 더 시간이 소요되는 것으로 나타났다. 더구나, 소닉 스케일러는 수복물의 치근단 쪽 표면에 의원성 거칠기를 더 많이 야기하는 것으로 나타났다.
오버행이 크다면, 왕복운동용 양면 날형으로 안전면을 보유한 30과 50마이크론 다이아몬드 입자(LTA-S 30®, LTA-S 50® 그림 52 참조)팁을 사용해 큰 크기의 오버행을 제거하는 것이 좋다. 오버행을 최종 제거하고 충전물을 휘니싱할 때는 양면형 텅스텐 코팅된 팁(LTA-S 36®)을 사용한다. 텅스텐으로 코팅된 팁은 법랑질에 아무런 영향을 끼치지 않는다. 따라서, 법랑질 표면은 충전의 최종 휘니싱용 가이드로서 사용할 수 있다. 마지막으로 충전물과 인접 법랑질 마진을 EVA 삼각형 팁과 불소가 함유된 예방 페이스트로 폴리싱한다.
그림 59~61은 왕복운동용 30㎛ 다이아몬드 팁(LTA-S30)을 이용해 초기 제거한 오버행을 보여주고 있다. 좀 더 작은 오버행은 15마이크론 다이아몬드 입자팁이나 텅스텐 코팅된 팁만으로도 쉽게 제거할 수 있다. 골드 오버행 또는 크라운 리콘투어링을 위해서는 왕복운동용 양면 날형 75 또는 50마이크론 다이아몬드 입자(LTA-S75 또는 LTA-S50) 팁들을 첫 단계로 사용하는 것이 권장된다.
왕복운동용 다이아몬드 코팅된 안전면을 갖춘 팁은 오래된 브리지의 폰틱부를 다듬거나 폰틱 길이를 줄이는 데에도 적합하다. 포세라인이나 골드 폰틱의 경우에는 75나 100마이크론 입자(LTA-75 또는 LTA-100)의 다이아몬드 코팅팁으로 시작하는 것이 좋다.
그림 59. 화살 표시를 따라 볼 수 있는 치은연하의 커다란 아말감 오버행
그림 60. 그림 59에 나타난 오버행을 왕복운동용 Profin EVA 시스템 내의 다이아몬드 코팅된 안전면을 갖춘 양면 LTA-S50과 LTA-S30팁을 이용해 제거했다. 최종 휘니싱과 폴리싱은 텅스텐 코팅 라미니어팁 LTA-S36팁과 EVA-2000삼각형 팁+불소 폴리싱 페이스트를 함께 사용했다.
그림 61a., 61b.
그림 59~60에서 설명한 동일한 방법으로 인접면 아말감 오버행(화살표)이 제거됐다.
아말감 수복물의 휘니싱과 폴리싱
증례 1.
그림 62는 휘니싱되지 않은 새로운 Class II 아말감 충전물을 보여주고 있다. 교합면의 초기 휘니싱은 회전식 페어형 휘니싱 버를 이용했다. 그러나 아직도 충전물의 근심면에는 휘니싱이 이루어지지 않아 거친 상태임을 보인다. 새로운 매트릭스 밴드를 대고 형성한 새로운 아말감 충전물을 ×6000 SEM 사진으로 본 상태를 최상으로 휘니싱하고 폴리싱한 상태 ×7000와 비교해본다(그림 47a와 47b-덴포라인 5월호 81p 참조).
그림 62. 교합면을 페어형 휘니싱 버로 초기 휘니싱했다. 근심면이 아직 거친 상태임을 볼 수 있다.
새로운 인접면 충전물에서는 올바른 디자인과 새로운 매트릭스 밴드에 대고 다져진 상태로 양면 날의 15㎛ 다이아몬드 코팅(LTA-S15)팁과 텅스텐 팁(LTA-S36)을 휘니싱 단계에서 첫 번째 단계에서 사용하는 것이 좋다. 텅스텐 팁은 법랑질에 거의 영향을 끼치지 않는 덕분에 휘니싱 파일링 시에 소위 말하는 법랑질 스티어링이 사용될 수 있다. 처음에는, 마진부의 라인 앵글과 외부 면은 팁을 이용해 수직방향으로 휘니싱한다. 그러고 나서 팁을 사면 위치로 해서 차츰 수평방향으로 변화시켜가면서 인접면을 휘니싱한다.
인접면 충전물 마진은 일반적으로 치은연하에 위치하므로 휘니싱하는 이 단계는 플라그 유지 측면에서 볼 때 매우 중요하게 고려해야 한다. 인접면의 최종 폴리싱은 삼각형의 나무팁인 EVA-7을 불소함유 폴리싱 페이스트를 이용해 시행한다. 최종적인 교합면 폴리싱은 회전식 러버컵과 같은 종류의 폴리싱 페이스트를 이용한다. 그림 63은 최종 결과를 나타내고 있다.
그림 63.
인접면과 라인 각도들은 왕복운동용 15㎛ 다이아몬드와 텅스텐 안전면 팁을 이용해 단계적으로 휘니싱했다. 최종 폴리싱은 삼각형 형태의 나무팁(EVA-7)과 불소 폴리싱 페이스트를 이용했다.
증례 2.
하악 좌측 제1대구치의 원심측에서 상아질 우식병소를 엑스레이 상에서 볼 수 있었다(그림 64). 병소가 상아질 속에 진공화를 형성해 Class Ⅱ 아말감 수복을 시행했다. 그림 65는 새로 충전한 충전물로, 그림 62와 63에서 보인 것과 같은 방법으로 휘니싱과 폴리싱을 시행했다. 최종 결과는 그림 66에서 볼 수 있다. 그림 67은 치료 후의 엑스레이 조정을 보여주고 있다.
그림 64. 하악 좌측 제1대구치 원심측의 상아질 우식병소가 엑스레이상에 보인다(화살표). 상아질 내 진공화(cavitation)가 임상적으로 진단됐다.
그림 65. Class Ⅱ 아말감 충전
그림 66. 충전물은 그림 62와 63의 충전물과 유사한 방법으로 휘니싱과 폴리싱했다.
그림 67. 충전물의 방사선상 조절
이들 아말감 수복물은 충전된 지 40여 년 이상 지난 수복물들로 상태는 양호했다. 그 이유는 필요한 경우 관리가 이루어져 2차 우식이 발생하지 않았기 때문이다. 심미적 관점에서 볼 때, 비용이 좀 더 들어가더라도 최근에는 올 세라믹 인레이가 많이 이루어지고 있다. 그러나 아직도 상당히 많은 수의 Class Ⅱ 아말감 수복물들은, 특히 인접면에서는 조악한 폴리싱이 이루어진 것을 살펴야 한다. 따라서 상기 휘니싱 방법이 적용돼야 한다.
